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方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪
产品简介
product
产品分类方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号:DP-WSP-51
DP-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!
仪器所有参数设定、能转换采用旋钮输入;具有零位、满度自校能;自动转换量程;测试探头采用耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
电 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方块电阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸(手持式)
直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
长(或)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等级
| 量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
| kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | |||
| 基本误差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | |||
4) 适配器作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
净 重:≤0.5kg
2.

数字式缘电阻测试仪/数字式兆欧表/兆欧表/缘电阻表 DP-DY30-4
| 能 | 量程 | 基本度 |
| 额定作电压 | 100/250/500/1000V | ±(3.0%+5) |
| 缘电阻测试范围 | 0.001M~2000MΩ | ±(3.0%+5) |
| 交流电压 | - | |
| 自动量程 | √ | |
| 单位符号显示 | √ | |
| 数据保持 | √ | |
| 低电阻蜂鸣显示 | √ | |
| 电压欠压提示 | √ | |
| 电源 | 1.5V电池×6(UM3) | |
| LCDzui大显示 | 1999 | |
| LCD视窗尺寸 | 26×62mm | |
| 标准包装尺寸 | 150×100×70mm | |
| 产品重量 | 约680克 | |